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技術(shù)文章

超細(xì)粉體的粒度分析方法

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篩分分析方法*簡(jiǎn)單的也是應(yīng)用*早的粒度分析方法是篩分法。但是,由于現(xiàn)今的標(biāo)準(zhǔn)篩*細(xì)一般只到400目,因此,對(duì)于小于10μm的超細(xì)粉體來(lái)說(shuō),不可能用標(biāo)準(zhǔn)篩進(jìn)行粒度分析和檢測(cè)。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)可以篩分小至5μm的粉體物料,但這種篩分技術(shù)由于篩分時(shí)間長(zhǎng)和經(jīng)常發(fā)生堵塞,很少在分析中使用。篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級(jí)。對(duì)于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料,一般用篩分法測(cè)定其粒度組成和粒度分布。

 

  篩分分析采用的套篩一般有兩種:一種為非標(biāo)準(zhǔn)篩,實(shí)驗(yàn)室可以自己制造,用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150,120,100,80,70,50,25,15,12,6,3,2,1(mm)等,根據(jù)需要確定。另一種為標(biāo)準(zhǔn)套篩,用于篩分細(xì)度物料,標(biāo)準(zhǔn)套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準(zhǔn)制造的篩子組。上層篩子的篩孔大,下層篩子的篩孔小,另外還有一個(gè)上蓋(防止試樣在篩分的過(guò)程中損失)和篩底(用來(lái)直接接取*層篩子的篩下產(chǎn)物)。

 

  將標(biāo)準(zhǔn)篩按篩孔由大到小,從上到下排列起來(lái),各個(gè)篩子所處的層位叫篩序;在疊好的篩序中,每?jī)蓚€(gè)相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比。有些標(biāo)準(zhǔn)篩有一個(gè)作為基準(zhǔn)的篩子叫基篩,如泰勒標(biāo)準(zhǔn)篩以200目篩子作為基篩

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